Ushbu ishda CO₂ ni metanolga selektiv gidrogenlash uchun Cu-ZnOₓ faol fazasini keyinchalik joylashtirishga mo‘ljallangan H-S-1 (hollow silicalite-1) tashuvchisi skanerlovchi elektron mikroskopiya va energiya-dispersiv spektroskopiya (SEM-EDS), transmission elektron mikroskopiya va EDS (TEM-EDS), shuningdek rentgen-fluorestsent tahlil (XRF) yordamida kompleks baholandi. H-S-1 kalsinlangan S-1 ni 0,30 M tetrapropilammoniy gidroksid eritmasida 170 °C da 72 soat selektiv ishqoriy qayta kristallash, pH 7–8 gacha yuvish, 100 °C da quritish va 540 °C da 6 soat kalsinlash orqali tayyorlangan. SEM tasvirlari 140–2000× oralig‘ida polidispers aglomeratlar, kuchli g‘adirbudir sirt, egatlar, plastinkasimon subbirliklar va ochiq bo‘shliqlarni ko‘rsatdi. SEM-EDS bo‘yicha o‘rtacha tarkib 55,17 mass.% Si va 43,80 mass.% O ni tashkil etdi. TEM tasvirlari 5 mkm dan 200 nm gacha bo‘lgan masshtablarda elektron-shaffof sohalar bilan birga ierarxik, o‘yilgan nanoteksturani ko‘rsatdi; TEM-EDS da Si+O 97,73 mass.% ga teng. XRF tahlilida 90,3 mass.% SiO₂ va 0,883 mass.% Al₂O₃ aniqlanib, SiO₂/Al₂O₃ molyar nisbati 173,5 ga teng bo‘ldi. Natijalar tashuvchining yuqori kremniyli va Cu-ZnOₓ fazasini kiritish uchun istiqbolli ekanini ko‘rsatadi, biroq MFI fazasi va g‘ovaklikni yakuniy tasdiqlash uchun XRD hamda gaz adsorbsiyasi, qoldiq Na va S ni esa bulk usullar bilan nazorat qilish zarur.