Powered by OpenAIRE graph
Found an issue? Give us feedback
Claim

Количественная растровая электронная микроскопия полупроводников

учебное пособие
descriptionPublicationkeyboard_double_arrow_right Other literature type 01 Jan 1999 Russian Publisher:Изд-во СПбГТУ

doi: 10.18720/spbpu/2/si21-163

Количественная растровая электронная микроскопия полупроводников

Abstract

Учебное пособие соответствует содержанию блока 1 структуры программы магистратуры федерального государственного образовательного стандарта высшего образования по направлению подготовки 27.04.06 "Организация и управление наукоемкими производствами (уровень магистратуры)", утвержденного приказом Минобрнауки России от 30.03.2015 № 305 "Об утверждении федерального государственного образовательного стандарта высшего образования по направлению подготовки 27.04.06 "Организация и управление наукоемкими производствами (уровень магистратуры)" (зарегистрировано в Минюсте России 15.04.2015 № 36851). В пособии рассмотрены основные методы вычислений раздела исследования операций: линейное программирование, а также цепи Маркова на основании примеров в области экономики предприятия. Научная специальность 08.00.05 "Экономика и управление народным хозяйством". Пособие имеет учебно-методическое назначение и предназначено для изучения студентами общего материала раздела исследования операций, в первую очередь линейного программирования, дисциплины учебного плана "Исследование операций”.

Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного технического университета.

Keywords

Полупроводники

  • BIP!
    Impact byBIP!
    selected citations
    These citations are derived from selected sources.
    This is an alternative to the "Influence" indicator, which also reflects the overall/total impact of an article in the research community at large, based on the underlying citation network (diachronically).
    		 0
    popularity
    This indicator reflects the "current" impact/attention (the "hype") of an article in the research community at large, based on the underlying citation network.
    		 Average
    influence
    This indicator reflects the overall/total impact of an article in the research community at large, based on the underlying citation network (diachronically).
    		 Average
    impulse
    This indicator reflects the initial momentum of an article directly after its publication, based on the underlying citation network.
    		 Average
Powered by OpenAIRE graph
Found an issue? Give us feedback
selected citations
These citations are derived from selected sources.
This is an alternative to the "Influence" indicator, which also reflects the overall/total impact of an article in the research community at large, based on the underlying citation network (diachronically).
BIP!Citations provided by BIP!
popularity
This indicator reflects the "current" impact/attention (the "hype") of an article in the research community at large, based on the underlying citation network.
BIP!Popularity provided by BIP!
influence
This indicator reflects the overall/total impact of an article in the research community at large, based on the underlying citation network (diachronically).
BIP!Influence provided by BIP!
impulse
This indicator reflects the initial momentum of an article directly after its publication, based on the underlying citation network.
BIP!Impulse provided by BIP!
0
Average
Average
Average
Upload OA version
Are you the author of this publication? Upload your Open Access version to Zenodo!
It’s fast and easy, just two clicks!
uploadUpload now