Este trabajo se centra en la caracterización de fragmentos de distintos meteoritos con el objetivo de identificar mediante la difracción de Rayos X las fases cristalinas presentes. Una vez obtenidos los espectros de difracción de Rayos X se utiliza el programa X-Pert High Score que permite identificar los posibles candidatos de fases cristalinas de la muestra estudiada. Posteriormente, se aplica el Método de Rietveld, que es una técnica de refinamiento de estructuras cristalinas basada en un ajuste de mínimos cuadrados entre el perfil de difracción observado y el modelo teórico que depende de parámetros globales, estructurales y de perfil. El software empleado para llevar a cabo dicho método es Fullprof. Además, se realiza un análisis elemental de espectroscopía fotoelectrónica de rayos X (XPS) con la finalidad de conocer la composición química de las muestras a estudiar.

This work analyses the characterisation of fragments of different meteorites with the aim of identifying the crystalline phases by means of X-ray diffraction. Once the X-ray diffraction spectra have been obtained, the X-Pert High Score programme is used to identify the possible candidates for crystalline phases in the studied sample. Subsequently, the Rietveld Method through the software Fullprof is applied, which is a crystal structure refinement technique based on a least-squares fit between the observed diffraction profile and the theoretical model that depends on global, structural and profile parameters. In addition, an elemental analysis of X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is carried out in order to identify the samples chemical composition.

Universidad de Sevilla. Grado en Física