Este dispositivo permite caracterizar de manera exacta y precisa el microrrelieve superficial. Dicho parámetro está directamente relacionado con procesos tan importantes como la erosión, escorrentía, distribución y tipo de agregados, propiedades térmicas y balance de energía, intercambios con la atmósfera, reflexión de la radiación solar y evaporación. La máquina posee un bastidor, el cual tiene la función de ser el soporte físico de los distintos sensores. El sistema de instrumentación y medida básicamente está formado por los sensores (dos potenciómetros, encargados del registro de las coordenadas "x", "y"; y un sensor láser de distancias, encargado de la adquisición de la coordenada "z"), el acondicionador de la señal del láser, el convertidor analógico-digital, la fuente de alimentación y un ordenador tipo PC portátil, encargado del control del proceso de toma de datos y del registro de la información.

Número de publicación: ES2161606 A1 (01.12.2001) También publicado como: ES2161606 B1 (16.02.2003) Número de Solicitud: Consulta de Expedientes OEPM (C.E.O.) P9901121 (25.05.1999)

Universidad de Almería