Permite caracterizar y testar los convertidores analógicodigitales mediante la estimación de la No-linealidad-Integral (Integral-Non-linearity, INL, en inglés), permitiendo evaluar el efecto de la temperatura y los cambios de polaridad en los convertidores, sin que para ello se interrumpa el camino natural de la conversión analógico-digital de la señal de entrada para inyectar el estímulo o referencia de test específico. Dicho procedimiento es válido para el test y caracterización de cualquier topología de conversión analógico-digital en aplicaciones BIST (de sus siglas en inglés, Built-In Self-Test) concurrentes como no concurrentes.

Consejo Superior de Investigaciones Científicas (España), Universidad de Sevilla

A1 Solicitud de patente con informe sobre el estado de la técnica

Peer reviewed