
handle: 10261/48462
El ajuste mediante el método Rietveld del espectro de difracción de rayos-X de un monocristal Zr02-4.7mol%Y203, muestra la existencia de una microestructura de dos fases t+t'. Los espectros de impedancia de este material determinan que su respuesta eléctrica esta controlada por los mismos procesos que en monocristales de circonia totalmente estabilizados con 9.5 mol% de itria. El análisis de la impedancia con un modelo circuital de una resistencia en paralelo con un condensador dependiente de la frecuencia, como una función tipo Fiavriliak- Negami, permite determinar las energías de activación de 0.94 eV y 1.10 eV para la conductividad iónica en las muestras de dos fases (f+f ) y una fase (c), respectivamente.
Peer reviewed
Difracción, microestructura
Difracción, microestructura
| selected citations These citations are derived from selected sources. This is an alternative to the "Influence" indicator, which also reflects the overall/total impact of an article in the research community at large, based on the underlying citation network (diachronically). | 0 | |
| popularity This indicator reflects the "current" impact/attention (the "hype") of an article in the research community at large, based on the underlying citation network. | Average | |
| influence This indicator reflects the overall/total impact of an article in the research community at large, based on the underlying citation network (diachronically). | Average | |
| impulse This indicator reflects the initial momentum of an article directly after its publication, based on the underlying citation network. | Average |
