[ES] La aparición de orientaciones preferentes o textura en láminas delgadas policristalinas se puede potenciar de muchas maneras, pero probablemente el factor más importante a tener en cuenta es la naturaleza del substrato. Si se logra una orientación preferente de los cristales de la lámina con el eje polar perpendicular al plano de la lámina el comportamiento ferroeléctrico del material mejora. Englobado en la búsqueda del substrato más adecuado para obtener láminas delgadas ferroeléctricas orientadas, este trabajo estudia por medio de análisis cuantitativo de texturas láminas delgadas de titanato de plomo modificado con calcio depositadas sobre substratos de Si, MgO y SrTiO3 con electrodos de Pt. Se obtiene una orientación preferente mixta a lo largo de y . A partir de los datos obtenidos se analizan los factores que contribuyen a las diferentes texturas obtenidas. Por un lado se discute el diferente grado de texturación del Pt sobre los tres substratos, y la formación de la lámina ferroeléctrica sobre ellos, cuya orientación parece desarrollarse independientemente del Pt en este caso. Y por otro, se estudia el efecto de las tensiones presentes durante el proceso de cristalización provocadas por las diferencias entre los coeficientes de expansión de cada uno de los substratos y la lámina, especialmente en el paso de la fase paraeléctrica cúbica a ferroeléctrica tetragonal.

[EN] Among all the factors that determine the development of preferential orientation or texture in polycrystalline thin films, the most important is the nature of the substrate. A preferential orientation of the crystallites with the polar axis perpendicular to the film surface results in an important improvement of the ferroelectric behaviour. In the search for the substrate that produces highly oriented ferroelectric thin films, this work analyses by quantitative texture analysis calcium modified lead titanate thin films deposited on platinised Si, MgO and SrTiO3 substrates. Amixed preferential orientation along and is obtained. From the results of this study we discuss the factors that contribute to the different final textures. First, we analyse the different texture strength of the Pt layer observed in the three substrates, and the growth of the ferroelectric film on them, whose orientation seems to develop independently of the Pt in this case. And secondly, we study the effect of the stress developed during the crystallisation process, caused by the difference in thermal expansion coefficient between each of the substrates and the film, especially on the domain structure formation at the paraelectric cubic- ferroelectric tetragonal phase transition.

XRD pole figures were measured at Le Mans University within the co-operation program CSIC-CNRS (2000FR0021). This work has been partially funded by EU project GROWTH (G6RD-CT99-00169) and the national project MAT98-1068 of the Spanish CICyT.

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