[EN]The invention relates to an oscillating mode force microscope (AFM) which has been transformed into one of the most powerful techniques used to characterise surfaces on a nanometric scale. However, the use thereof in liquid media is greatly conditioned by the decline in the quality factor (Q) of the microlever of the AFM. The aforementioned decline, which is the result of an increase in the hydrodynamic friction with the fluid, produces effects such as a reduction in topography sensitivity, slower microscope operation and the presence of greater forces on the sample. As a result, different modes of effectively increasing factor Q have been developed. Nonetheless, all of the analyses of earlier methods are based on the hypothesis of a stationary response. [ES]La microscopía de fuerzas en modos oscilantes (AFM) se ha convertido en una de las técnicas más poderosas para caracterizar superficies a escala nanométrica. Sin embargo, su empleo en medios líquidos está fuertemente condicionado por la disminución del factor de calidad (Q) de la micropalanca del AFM. Esta disminución que tiene su origen en el aumento del rozamiento hidrodinámico con el fluido produce, entre otras cosas, una perdida de la sensibilidad a la topografía, un funcionamiento más lento del microscopio y la presencia de fuerzas mayores sobre la muestra. Como consecuencia de lo anterior se han desarrollado distintos modos de aumentar de forma efectiva el factor Q. Sin embargo, todos los análisis de los procedimientos anteriores se han basado en la hipótesis de una respuesta estacionaria

Fecha de solicitud: 30.04.2003.- Titular: Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC).

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