[EN] Since the sixties and seventies of the past XXth century transmission electron microscopy has been incorporated in a permanent way to the companion toolbox that mineralogists carry away to help them in their different research areas. Under adequate conditions, modern TEM equipments can provide images with a resolution close to the angstrom and x-ray diffractions of surfaces as small as the wideness of the electron beam used. All these capabilities are complemented by the possibility of obtaining spot-centered analytical information. However, it is not the high spatial resolution the only attribute that makes TEM and interesting technique. In fact, the possibility of deepen into the knowledge of real crystals and into de phenomena and processes associated with them confers TEM an extraordinary potential and a wide panoply of exciting applications.

[ES] A partir de los años 60 y 70 del siglo XX, la microscopía electrónica de transmisión se incorporó, de forma permanente, al baúl de técnicas de caracterización que acompañan a los mineralogistas en sus trabajos de investigación. Bajo condiciones adecuadas, un TEM moderno es capaz de proporcionar imágenes de resolución cercana al angstrom y difracciones de rayos X de zonas tan pequeñas como la amplitud del propio haz de electrones empleado. Todo ello complementado con información analítica puntual. Sin embargo, no es la alta resolución espacial el único atributo que otorga interés a esta técnica puesto que la posibilidad de profundizar en el conocimiento de los cristales reales y en los fenómenos y procesos con ellos asociados le confieren un potencial extraordinario y un gran abanico de posibles aplicaciones.

El Ministerio de Educación y Ciencia por la financiación a través de diversos proyectos de investigación (Ej. CGL2007-66744- C02-01)

5 páginas, 2 figuras.

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