Método de utilización de un microscopio de fuerzas atómicas y microscopio. El método que comprende realizar como mínimo una excitación bi-modal de una micropalanca (M), a disponer sobre una muestra, y analizar como mínimo la variación de la amplitud (Ai) de oscilación de una señal de salida (Aicos(ωit- Φi)) representativa de la respuesta de dicha micropalanca (M) a la excitación de uno de sus modos naturales de vibración, para obtener información topográfica de dicha muestra, y la variación de la fase ( Φj) de una señal de salida (Ajcos(ωjt- Φj)) representativa de la respuesta de dicha micropalanca (M) a la excitación de otro de sus modos naturales de vibración, para obtener información composicional de dicha muestra. El microscopio se encuentra adaptado para ser utilizado según el método propuesto.

Titular: Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC). -- Fecha de publicación de la solicitud: 01.01.2007.

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