En el presente trabajo se estudian, mediante el análisis XPS (espectroscopia fotoelectrónica de rayos-X), los recubrimientos de anodizado, sellados y sin sellar, obtenidos sobre Al-puro y aleaciones de Al-Cu, Al-Mg-Si y Al-Mg. En general, se observa un aumento significativo en las relaciones O/Al en el recubrimiento como resultado del proceso de sellado. En el caso de las aleaciones de Al-Cu y Al-Mg, se ha observado también un significativo aumento de la relación O/Al respecto al Al-puro y la aleación Al-Mg-Si, que puede estar asociado a una mayor porosidad de los recubrimientos obtenidos sobre las primeras. Se ha intentado así mismo establecer posibles relaciones entre las características de las capas anódicas y las heterogeneidades superficiales que también han actuado en la fase previa al anodizado. Según los resultados de este trabajo, estas mismas heterogeneidades afectan el grado de disolución del substrato metálico durante la operación de anodizado.