Une taille de caractéristique plus petite, une fréquence d'horloge plus élevée et une consommation d'énergie plus faible sont des préoccupations fondamentales de la nanotechnologie d'aujourd' hui, qui a résulté de la réduction continue de l'échelle des technologies CMOS. Le « rétrécissement du dispositif » qui en résulte réduit la tolérance aux erreurs douces des circuits VLSI, car très peu d'énergie est nécessaire pour changer leurs états. Les systèmes critiques pour la sécurité sont très sensibles aux erreurs logicielles. Un retournement de bit dû à une erreur logicielle peut modifier la valeur de la variable critique et, par conséquent, le flux de contrôle du système peut être complètement modifié, ce qui entraîne une défaillance du système. Pour minimiser les risques d'erreur logicielle, une nouvelle méthodologie est proposée pour détecter et récupérer des erreurs logicielles en tenant compte uniquement des « blocs de code critiques » et des « variables critiques » plutôt que de considérer toutes les variables et/ou blocs dans l'ensemble du programme. Le procédé proposé réduit les frais généraux d'espace et de temps par rapport aux approches dominantes existantes.

El menor tamaño de las características, la mayor frecuencia de reloj y el menor consumo de energía son las principales preocupaciones de la nanotecnología actual, que ha sido el resultado de la continua reducción de escala de las tecnologías CMOS. La "contracción del dispositivo" resultante reduce la tolerancia a errores suaves de los circuitos VLSI, ya que se necesita muy poca energía para cambiar sus estados. Los sistemas críticos para la seguridad son muy sensibles a los errores blandos. Un cambio de bit debido a un error suave puede cambiar el valor de la variable crítica y, en consecuencia, el flujo de control del sistema se puede cambiar por completo, lo que conduce a una falla del sistema. Para minimizar los riesgos de errores suaves, se propone una metodología novedosa para detectar y recuperarse de los errores suaves considerando solo "bloques de código críticos" y "variables críticas" en lugar de considerar todas las variables y/o bloques en todo el programa. El método propuesto acorta los gastos generales de espacio y tiempo en comparación con los enfoques dominantes existentes.

Smaller feature size, higher clock frequency and lower power consumption are of core concerns of today's nano-technology, which has been resulted by continuous downscaling of CMOS technologies. The resultant 'device shrinking' reduces the soft error tolerance of the VLSI circuits, as very little energy is needed to change their states. Safety critical systems are very sensitive to soft errors. A bit flip due to soft error can change the value of critical variable and consequently the system control flow can completely be changed which leads to system failure. To minimize soft error risks, a novel methodology is proposed to detect and recover from soft errors considering only 'critical code blocks' and 'critical variables' rather than considering all variables and/or blocks in the whole program. The proposed method shortens space and time overhead in comparison to existing dominant approaches.

يعد حجم الميزة الأصغر وتردد الساعة الأعلى وانخفاض استهلاك الطاقة من الاهتمامات الأساسية لتقنية النانو اليوم، والتي نتجت عن التقليص المستمر لتقنيات CMOS. يقلل "تقلص الجهاز" الناتج من تحمل الخطأ الناعم لدوائر VLSI، حيث أن هناك حاجة إلى القليل جدًا من الطاقة لتغيير حالاتها. أنظمة السلامة الحرجة حساسة للغاية للأخطاء اللينة. يمكن أن يؤدي الانعكاس قليلاً بسبب خطأ بسيط إلى تغيير قيمة المتغير الحرج وبالتالي يمكن تغيير تدفق التحكم في النظام تمامًا مما يؤدي إلى فشل النظام. لتقليل مخاطر الأخطاء اللينة، يتم اقتراح منهجية جديدة للكشف عن الأخطاء اللينة والتعافي منها مع الأخذ في الاعتبار فقط "كتل التعليمات البرمجية الحرجة" و "المتغيرات الحرجة" بدلاً من مراعاة جميع المتغيرات و/أو الكتل في البرنامج بأكمله. تعمل الطريقة المقترحة على تقصير المساحة والوقت مقارنة بالنهج السائدة الحالية.