В данной работе представлено панорамное отображение кривизны кристалла по дискретным данным о локальных ориентациях решетки, измеренных методом дифракции обратно рассеянных электронов (ДОРЭ). Создан алгоритм, позволяющий осуществлять дискретное дифференцирование ориентировок в узлах гексагональной сетки, используемой при сканировании образца металла. Проведена проверка алгоритма с помощью дилатометрического эксперимента на основе независимых данных.

The work presents a panoramic display of the crystal curvature based on discrete data on local lattice orientations measured by electron backscattered diffraction (EBSD). An algorithm that allows to complete the discrete differentiation of orientations at the nodes of a hexagonal grid used when scanning a metal sample was created. The algorithm was verified using a dilatometric experiment based on independent data.