Le système sur puce (SoC) est une structure dans laquelle les composants semi-conducteurs sont intégrés dans une seule puce. En tant que résultat, le temps de test doit être réduit pour atteindre un faible coût pour chaque puce. Une programmation de test efficace peut réduire le temps de test du SoC, ce qui est plus difficile en raison de sa complexité. Dans cet article, la programmation de test basée sur l'algorithme BAT modifié est proposée. Le test est effectué sur les circuits de référence SoC ITC'02. La méthode bat modifiée est un algorithme récemment heuristique qui effectue une optimisation globale en imitant l'écholocation de la chauve-souris. Comparée à d'autres algorithmes de pointe, la méthode d'optimisation de la CHAUVE-SOURIS modifiée réduit le temps de test sur les SoC. Cet article améliore le processus d'exploration de l'algorithme en ajustant l'équation pour le volume de la chauve-souris (A0) et le taux d'émission des impulsions (r). L'algorithme BAT modifié converge vers la solution optimale plus rapidement. Il a été utilisé dans 14 fonctions de test standard internationales. Les résultats du test indiquent que l'algorithme BAT modifié a une vitesse de convergence rapide, ce qui minimise le temps de test par rapport à d'autres algorithmes évolutifs sur les circuits de référence SoC ITC'02.

System-on-Chip (SoC) es una estructura en la que los componentes semiconductores se integran en un solo dado. Como resultado, el tiempo de prueba debe reducirse para lograr un bajo costo para cada chip. La programación de prueba efectiva puede reducir el tiempo de prueba de SoC, que es más desafiante debido a su complejidad. En este documento, se propone la programación de prueba basada en el algoritmo BAT modificado. La prueba se lleva a cabo en los circuitos de referencia SoC ITC'02. El método Bat modificado es un algoritmo heurístico reciente que realiza una optimización global imitando la ecolocación de Bat. En comparación con otros algoritmos de última generación, el método de optimización de BAT modificado reduce el tiempo de prueba en SoC. Este documento mejora el proceso de exploración del algoritmo ajustando la ecuación para la sonoridad de Bat (A0) y la tasa de emisión de pulso (r). El algoritmo BAT modificado converge a la solución óptima más rápido. Se ha utilizado en 14 funciones de prueba estándar internacional. Los resultados de la prueba indican que el algoritmo BAT modificado tiene una velocidad de convergencia rápida, lo que minimiza el tiempo de prueba en comparación con otros algoritmos evolutivos en los circuitos de referencia ITC'02 SoC.

System-on-Chip (SoC) is a structure in which semiconductor components are integrated into a single die.As a result, testing time should be reduced to achieve a low cost for each chip.Effective test scheduling can reduce the SoC testing time, which is more challenging due to its complexity.In this paper, the modified BAT algorithm-based test scheduling is proposed.Testing is carried out on the SoC ITC'02 benchmark circuits.The Modified Bat method is a recently heuristic algorithm that performs global optimization by imitating bat echolocation.Compared to other state-of-the-art algorithms, the Modified BAT Optimization method reduces testing time on SoCs.This paper improves the algorithm's exploration process by adjusting the equation for bat loudness (A0) and pulse emission rate (r).The modified BAT algorithm converges to the optimal solution faster.It has been used in 14 international standard test functions.The test results indicate that the modified BAT algorithm has a fast convergence speed, which minimizes the testing time compared to other evolutionary algorithms on the ITC'02 SoC benchmark circuits.

النظام على الرقاقة (SoC) هو هيكل يتم فيه دمج مكونات أشباه الموصلات في قالب واحد. ونتيجة لذلك، يجب تقليل وقت الاختبار لتحقيق تكلفة منخفضة لكل شريحة. يمكن أن تقلل جدولة الاختبار الفعالة من وقت اختبار SoC، وهو أكثر صعوبة بسبب تعقيده. في هذه الورقة، يتم اقتراح جدولة الاختبار المعدلة القائمة على خوارزمية BAT. يتم إجراء الاختبار على الدوائر المعيارية لـ SoC ITC'02. طريقة BAT المعدلة هي خوارزمية تجريبية حديثة تؤدي إلى التحسين العالمي من خلال تقليد تحديد الموقع بالصدى للخفافيش. بالمقارنة مع خوارزميات أخرى حديثة، فإن طريقة تحسين BAT المعدلة تقلل من وقت الاختبار على SoC. تعمل هذه الورقة على تحسين عملية استكشاف الخوارزمية عن طريق ضبط معادلة ارتفاع الخفافيش (A0) ومعدل انبعاث النبض (r). تتقارب خوارزمية BAT المعدلة إلى الحل الأمثل بشكل أسرع. وقد تم استخدامها في 14 وظيفة اختبار قياسية دولية. تشير نتائج الاختبار إلى أن الخوارزمية المعدلة لها سرعة تقارب سريعة، مما يقلل من وقت الاختبار مقارنة بالخوارزميات التطورية الأخرى على دوائر معيار ITC 02C.