Показано, что воздействие импульсного электромагнитного излучения (ЭМИ) на электрорадио-изделия часто сопровождаются возникновением токов в проводящих элементах изделий и образованием внутренних полей. Определены энергетические потери потока заряженных частиц обусловленных их взаимодействием с собственными полями на возбуждение поверхностных поляритонов в полупроводниковых структурах. The influence of pulsed electromagnetic radiation on electric radio apparatus is often accompanied by currents arcsing on inner current – conducting elements as well as by the distortion of their internal fields. The power losses of the flow of charged particles caused by such an interaction due to excitation of surface polaritons in the semiconductor structure have been determined.