This paper considers the development of digital circuit tests using continuous models of discrete devices. An algorithm is presented which makes it possible to solve the problem of finding test sets using continuous optimization. A generalized fault model is proposed which implements a unified approach to the representation of different types of faults in test generation. The proposed approach is implemented as a software environment for research and development of fault models and algorithms for finding digital circuit tests. For testing, a system of automated test generation for constant faults of combinational circuits has been built. The performance estimation results for the software package developed for the ISCAS '85 benchmark circuits demonstrate the effectiveness of the algorithms and methods used.

Разрабатываются способы построения тестов цифровых схем с использованием непрерывных моделей дискретных устройств. Представлен алгоритм, позволяющий решить задачу поиска тестовых наборов с помощью непрерывной оптимизации. Кроме того, предложена обобщенная модель неисправности, реализующая единый подход к представлению различных типов неисправностей при генерации тестов. Предложенный подход реализован программно в виде среды для разработки и исследования моделей неисправностей и алгоритмов поиска тестов цифровых схем. В целях апробации построена система автоматической генерации тестов для константных неисправностей комбинационных схем. Приведены результаты работы разработанного программного комплекса для ряда схем набора ISCAS'85, демонстрирующие эффективность используемых алгоритмов и методов.