В работе проанализированы физичексие основы создания и представлены результаты разработки и испытаний макета оптико-электронной системы, который продемонстрировал возможность в затемненном помещении обнаружить источник альфа-излучения активностью 1 мКи, расположенный рядом с источником гамма-излучения активностью 5 мКи, с расстояния 10 метров. Время регистрации источника альфа-излучения составило единицы секунд. В работе также предлагается способ усовершенствования такой системы, который обеспечит дополнительную возможность визуализации источников альфа-излучения.

В роботі проаналізовано фізичні засади створення та представлені результати розробки та випробування макету оптико-електронної прийомної системи, яка дала можливість в затемненому приміщенні селективно виявити джерело альфа-випромінювання активністю до 1 мКі, розташоване поруч з джерелом гама-випромінювання активністю 5 мКі, з відстані до 10 метрів. Час реєстрації джерела альфа-випромінювання становив секунди. В роботі пропонується і спосіб вдосконалення такої системи, який забезпечить додаткову можливість візуалізації джерел альфа-випромінювання. 

The physical basis for creation of optico-electronic system for selective remote sensing of alpha-particle sources is considered. The result of this system design and testing is presented. The system was proven to be able to detect an alpha-particle source (1 mKi) from a distance of10 min the presence of a gamma-source (5 mKi) and in dark room. Detecting time is a few seconds. The method for system improoving intended to alpha-sources visualization has also been explored.