Strukturelle Methoden zur durchgängigen Diagnose digitaler Automobil-Elektronik im Feld

Doctoral thesis English OPEN
Cook, Alejandro;
(2014)
  • Related identifiers: doi: 10.18419/opus-3382
  • Subject: 004 | BIST , logic diagnosis , Automotive failure analysis | Halbleiter , Diagnose , Kraftfahrzeug
    acm: ComputerApplications_COMPUTERSINOTHERSYSTEMS

Die Fahrzeugtechnik nutzt die aktuellen Entwicklungen der Halbleiterindustrie, um Kunden eine enorme Anzahl ansprechender, komplexer Produkteigenschaften zu bieten. Da traditionelle, funktionale Testverfahren nicht mehr ausreichen, um den diagnostischen Anforderungen im... View more
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