A process of manufacturing conformal correctors for solid state YAG:Nd3+ lasers is discussed. It is proposed that a maskless lithography method should be used for fabricating a photoresist film with a desired thickness profile as an alternative to the proximity lithography based on half-tone masks. The use of a specular spectral scatterometry method for the testing of the conformal corrector shape at an early stage of photoresist profile formation is reported. A combination of these two methods makes the corrector manufacturing process significantly cheaper and faster.

В работе обсуждаются проблемы изготовления и контроля качества конформальных корректоров для мощных твердотельных YAG:Nd3+ лазеров. Предложено использовать метод безмасочной проекционной фотолитографии как альтернативу фотолитографии с зазором на основе растрированных полутоновых шаблонов. Рассмотрено применение метода зеркальной спектроскопической рефлектометрии для контроля формы корректоров на стадии рельефа в фоторезисте. Совокупность использованных методов значительно повышает производительность изготовления корректоров в сочетании с удешевлением процесса.