Research Of Electrical Parameters Of The Films Of Titanium Oxide Used In The Formation Of Memristor'S Structures

Conference object, Other literature type OPEN
Nagaichuk S.; Argunov D.; Troyan P.; Zhidik E.; Zmanovsky P.;
(2016)
  • Publisher: Zenodo
  • Identifiers: doi: 10.5281/zenodo.221339
  • Subject: electrophysical parameters | memristor | titanium oxide film TiO2 and TiOx

Были изучены электрические свойства пленок оксида титана, которые были сделаны с помощью магнетронного распыления катода из титана, стехиометрические (TiO2) и нестехиометрические (TiOx) композиции используются для создания элементов энергонезависимой памяти мемристорные... View more
Share - Bookmark

  • Download from
    ZENODO via ZENODO (Conference object, 2016)
  • Cite this publication