Estudio de la fiabilidad mediante ensayos acelerados de diodos ultravioletas de alta potencia

Bachelor thesis Spanish; Castilian OPEN
Segura Antúnez, César;
(2014)
  • Publisher: E.T.S.I y Sistemas de Telecomunicación (UPM)
  • Subject: Electrónica

Durante los últimos años la utilización de los LEDs (Light Emitting Diodes) ha aumentado de forma muy importante siendo hoy en día una alternativa real a los sistemas de iluminación tradicionales. La iluminación basada en LEDs se está utilizando ampliamente en automo... View more
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    3 ENSAYOS DE FIABILIDAD……………………………………………………...40 3.1 Clases de ensayos de fiabilidad…………………………………………………….41 3.2 Modelo de aceleración en temperatura de Arrhenius………………………………42 3.3 Ensayos acelerados de vida……………………………………………………...…43 3.3.1 Ensayos cualitativos……………………………………………………………... 3.3.2 Ensayos cuantitativos……………………………………………………………. 3.3.2.1 Método de tasa de aceleración……………………………………………. 3.3.2.2 Aceleración por sobreesfuerzo……………………………………………. 3.3.2.3 Análisis de datos………………………………………………………….. 3.3.3 Niveles de esfuerzo……………………………………………………………… 3.3.3.1 Independientes del tiempo………………………………………………... 3.3.3.2 Dependientes del tiempo…………………………………………………..

    Meneghini, M. et al. (2010). Reliability evaluation for Blu-Ray laser diodes.

    Microelectron. Reliab. 50(4), 467-470.

    Nogueira, E., Manuel Vázquez, and Neftalí Núñez. "Evaluation of AlGaInP LEDs reliability based on accelerated tests." Microelectronics Reliability 49.9 (2009): 1240- 1243.

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